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熱門關鍵(jiàn)詞(cí)： 測角(jiǎo)儀，應力(lì)雙(shuāng)折(zhē)射，折(zhē)射率，薄(báo)膜弱吸收，反(fǎn)射(shè)率，GDD檢測(cè)設備(bèi)，波片相位延遲(chí)，剪切
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光學(xué)表麵質量檢(jiǎn)測係(xì)統(tǒng)是一款革(gé)命性(xìng)的光學表(biǎo)麵(miàn) 質量(liáng)檢測(cè)係統(tǒng)，具備高(gāo)重(zhòng)復性和準確性(xìng)。
非(fēi)接觸式測(cè)厚儀采用了(liǎo)短(duǎn)相幹光源(yuán)的邁克爾遜幹涉儀(yí)原理(lǐ)。可(kě)單(dān)次(cì)測量多層膜，最高可測 20 層(céng)。
夏(xià)克哈(hā)特曼(màn)傳感器集(jí)合了幹涉(shè)儀(yí)，光束分(fēn)析儀，自準(zhǔn)直(zhí)儀(yí)及(jí)四象限(xiàn)探測器(qì)優(yōu)點(diǎn)於(yú)一身(shēn)，具有(yǒu)測量(liáng)速度快(kuài)，精(jīng)度高(gāo)，尺(chǐ)寸(cùn)小巧(qiǎo)的特點(diǎn)。
幹(gān)涉儀：非接觸式(shì)技術檢測(cè)拋(pāo)光(guāng)平(píng)麵和球麵的精度(dù)（功(gōng)率，不(bù)規(guī)則(zé)度(dù)）；測試表(biǎo)麵(miàn)半(bàn)徑(jìng)；檢(jiǎn)測(cè)目標(biāo)傳(chuán)輸(shū)波(bō)前畸(jī)變（TWD)。
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