熱(rè)門(mén)關鍵(jiàn)詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射(shè)率,薄膜(mó)弱(ruò)吸收(shōu),反射(shè)率,GDD檢測(cè)設備,波(bō)片相(xiāng)位(wèi)延(yán)遲,剪(jiǎn)切
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美國Hidns Instruemtns -LCD材(cái)料的超低(dī)階(jiē)雙折(zhē)射(shè)測(cè)量 在與眾(zhòng)多的光學材料製造商(shāng)合(hé)作多(duō)年(nián)後(hòu),Hinds 儀器(qì)公(gōng)司(sī)推(tuī)出了(liǎo)Exicor 1500AT係統,用(yòng)於(yú)測量大麵積(jī)光(guāng)學(xué)材(cái)料,如(rú)用於LCD(高達1500mm x 1500mm)的光(guāng)學(xué)材(cái)料。 隨(suí)著(zhuó)液(yè)晶顯示器材料規(guī)格(gé)的成(chéng)熟,專業(yè)化(huà)的係(xì)統已經成為行業所(suǒ)需要(yào)的。Hinds現在(zài)提供(gōng)從GEN5到(dào)GEN
光(guāng)學(xué)玻璃(lí)應(yīng)力測量占(zhān)地(dì)小(xiǎo)-大限(xiàn)度(dù)地(dì)減少設備所需的(dí)工(gōng)廠(chǎng)空間(jiān);平(píng)台設計-使可(kě)測(cè)量麵(miàn)積盡可能大;*的自動化-質(zhì)量(liáng)階段(duàn)和(hé)硬件正常(cháng)運(yùn)行(háng)時間(jiān)。
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