應(yīng)力雙折射(shè)檢(jiǎn)測(cè)

簡要描述(shù)：在(zài)矽(guī)太陽(yáng)能(néng)電(diàn)池(chí)板(bǎn)的(dí)生(shēng)產(chǎn)過程中(zhōng)，矽晶體中(zhōng)的應(yīng)力(lì)在(zài)製(zhì)作過(guò)程(chéng)中往往沒有被(bèi)檢(jiǎn)測到，我(wǒ)們描述了一(yī)種(zhǒng)測量(liáng)矽錠(dìng)的(dí)應力(lì)雙折(zhē)射(shè)檢測，它(tā)可以是方形(xíng)的，也(yě)可(kě)以是生長(cháng)的(dí)，然(rán)後被(bèi)鋸(jù)成(chéng)矽片(piàn)，當(dāng)這台儀(yí)器被用作(zuò)質量控(kòng)製工具時，在後續加工(gōng)成(chéng)本(běn)發生之(zhī)前，可以識(shí)別出低質(zhì)量(liáng)的矽(guī)錠或鋼錠(dìng)。此(cǐ)外，該儀器(qì)還(huán)為矽(guī)晶(jīng)體(tǐ)的(dí)生長提(tí)供(gōng)了一種提高矽(guī)錠質量的(dí)工具(jù)，使其(qí)能夠生產(chǎn)出(chū)較薄的矽片(piàn)，降低了(liǎo)機(jī)械(xiè)產(chǎn)量損失。

產品型(xíng)號(hào)：Exicor® PV-Si
廠(chǎng)商(shāng)性質：代(dài)理商(shāng)
更新時間：2026-04-01
訪(fǎng) 問量：4849

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　　在矽太(tài)陽(yáng)能電(diàn)池板(bǎn)的生(shēng)產過(guò)程中(zhōng)，矽晶體中的應(yīng)力(lì)在(zài)製作過(guò)程中往往(wǎng)沒(méi)有被檢(jiǎn)測到，我們(mén)描述(shù)了(liǎo)一種(zhǒng)測量矽(guī)錠的應(yīng)力(lì)雙(shuāng)折射檢測，它可以是(shì)方形的，也(yě)可以是(shì)生長的，然後(hòu)被鋸(jù)成矽片(piàn)，當(dāng)這台儀(yí)器被用作質量(liáng)控製工具時，在後(hòu)續加(jiā)工(gōng)成本發生之前(qián)，可以(yǐ)識別出低(dī)質(zhì)量的(dí)矽錠(dìng)或鋼錠。此(cǐ)外(wài)，該儀器(qì)還為(wéi)矽晶(jīng)體的生長(cháng)提供了(liǎo)一(yī)種(zhǒng)提高(gāo)矽錠質(zhì)量的工具(jù)，使其(qí)能夠(gòu)生產出較薄的矽片，降低了機(jī)械(xiè)產量損失(shī)。

　　Hinds Instruments 的(dí)Exicor® 應(yīng)力雙(shuāng)折射檢測係(xì)統PV-Si是(shì)Exicor雙折射(shè)測量係統係列產品的(dí)工(gōng)作(zuò)平台(tái)的(dí)擴(kuò)展(zhǎn)。本(běn)係(xì)統采(cǎi)用高質量的對稱光(guāng)彈(dàn)性調製器，1550 nm激(jī)光器(qì)和Ge雪(xuě)崩光(guāng)電二極管探測(cè)器(qì)，實現(xiàn)了光伏和(hé)半導體(tǐ)工(gōng)業(yè)中矽材料的(dí)高精度雙折(zhē)射測(cè)量，除(chú)矽(guī)外，還(huán)可測量藍寶(bǎo)石，碳化(huà)矽(guī)，硒鋅(xīn)，鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固，通(tōng)用(yòng)，可容納和(hé)測(cè)量直徑(jìng)達8英寸(cùn)的500毫米(mǐ)粗(cū)錠。台(tái)麵(miàn)設計(jì)和(hé)直觀的(dí)自(zì)動掃描(miáo)軟件使該產品成(chéng)為原材料改(gǎi)進(jìn)，研(yán)發(fā)和日常評(píng)估的選擇，也是對原始(shǐ)矽(guī)錠和(hé)其他高(gāo)技術材料進行評估(gū)的選擇。

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