LID光(guāng)熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱(ruò)吸(xī)收(shōu)儀(yí)測量意義

在高功率(shuài)激光係(xì)統(tǒng)中，光學鏡(jìng)片的(dí)膜(mó)層及體材料吸收(shōu)較(jiào)大(dà)的(dí)話會(huì)引(yǐn)起以下熱(rè)透鏡(jìng)效(xiào)應(yīng)進而產(chǎn)生一(yī)係列問題：
1.如下(xià)圖所(suǒ)示的(dí)焦距(jù)發(fā)生(shēng)變(biàn)化(huà)
2.波前(qián)畸(jī)變
3.退偏
4.膜層吸收(shōu)是影響薄膜損(sǔn)傷閾(yù)值 的一(yī)個重要(yào)指(zhǐ)標

原理示意圖(tú)

此係(xì)統采用(yòng)光熱(rè)偏轉技(jì)術，用於測量透(tòu)明光學(xué)材料(liào)及(jí)鍍膜產品(pǐn)受到(dào)激光照射(shè)後產(chǎn)生的微(wēi)弱吸收(shōu)。在強激(jī)光照射(shè)下，材(cái)料(liào)內(nèi)部(bù)由(yóu)於(yú)吸收(shōu)熱能產生折射率梯(tī)度(dù)現象（熱透(tòu)鏡效(xiào)應），當一束(shù)探測光(guāng)經過“熱透鏡"效(xiào)應(yīng)區域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感(gǎn)器(qì)測量(liáng)其位置偏移量。

LID技術參數(shù)一(yī)覽表

LID與PCI比較一覽表(biǎo)

LID校(xiào)準-電極校準

LID光(guāng)熱(rè)偏轉技術(shù)弱(ruò)吸收儀(yí)

采用電(diàn)極(jí)校(xiào)準得出校(xiào)正因子Fcal， Ilid 為(wéi)信號(hào)強度，Pl 為pump光功(gōng)率(shuài)。

特(tè)點(diǎn)：是(shì)無(wú)需了(liǎo)解樣品(pǐn)材料的(dí)特(tè)性(xìng)，便可提供獨立校準(zhǔn)。如果(guǒ)改變(biàn)光熱偏(piān)轉係(xì)統(tǒng)裝置，需(xū)要客戶自己插入和(hé)連(lián)接校準(zhǔn)樣(yàng)品(pǐn)，利(lì)用軟件(jiàn)完(wán)成(chéng)自動(dòng)校準。